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KlappentextDiplomarbeit aus dem Jahr 1999 im Fachbereich Informatik - Technische Informatik, Note: 1, Rheinische Friedrich-Wilhelms-Universität Bonn, Sprache: Deutsch, Abstract: Methoden der Bildverarbeitung werden in der Materialforschung benutzt, um Verzerrungen atomarer Größenordnung vorwiegend in kristallinen Halbleiterheterostrukturen lokal quantitativ zu erfassen. Damit lassen sich andere Größen wie lokale Gitterkonstanten und lokale Konzentrationen errechnen und Rückschlüsse auf Wachstumseigenschaften ziehen. Diese Informationen werden benötigt, um bestimmte Eigenschaften der Heterostrukturen zu verbessern, die die Grundlage elektronischer und optoelektronischer Bauelemente wie hochintegrierter Mikrochips, Halbleiterlaser und Leuchtdioden sind.
Details
Weitere ISBN/GTIN9783656999706
ProduktartE-Book
EinbandartE-Book
FormatPDF
Format Hinweis0 - No protection
Verlag
Erscheinungsjahr2012
Erscheinungsdatum27.07.2012
Auflage1. Auflage
Seiten89 Seiten
SpracheDeutsch
Artikel-Nr.3277027
Rubriken
Genre9200