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KlappentextExplains reliability issues in microelectronics systems manufacturing and software development with an emphasis on evolving manufacturing technology for the semiconductor industry. This book presents ways to systematically analyze burn-in policy at the component, sub-system, and system levels.
Details
ISBN/GTIN978-0-7923-8107-5
ProduktartBuch
EinbandartGebunden
Verlag
Erscheinungsjahr1998
Erscheinungsdatum31.01.1998
Seiten394 Seiten
SpracheEnglisch
Gewicht776 g
IllustrationenXXVI, 394 p.
Artikel-Nr.10545223
Rubriken