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Klappentext"Man misst eigentlich immer falsch. Man muss nur wissen wieviel."Dieses Buch beschäftigt sich mit dem "wieviel" in obiger Aussage vom Messtechnik-Pionier Dave Packard. Es schildert die Grundlagen, welche seit dem Wechsel der Paradigmen in die Metrologie Einzug gehalten haben. Das Buch zeigt anhand vieler Beispiele die Anwendung der Verfahren. Ein ausführliches Glossar rundet das Buch ab.Zweite, vollständig neu erstellte AusgabeAus dem Inhalt: Bedeutung, Einflüsse, Messunsicherheitsanalyse, Prozessgleichung, Modellgleichung, Verteilungen, Gewichtungsfaktoren, Faltungen, Empfindlichkeitskoeffizienten, Korrelation, Kovarianz, Freiheitsgrad, Bilanzen (Budgets), Segmente, Ergebnisse dokumentieren, Kalibrierscheine, Überdeckung, Spezifikationen, Optimierungen, Ergebnisanalyse, Konformitätsaussagen, Bereichskalibrierungen, Beispiele, Normalized Error Ratio, Evaluierung, Transfers, Definitionen, Glossar
Details
ISBN/GTIN978-3-7534-9017-5
ProduktartBuch
EinbandartGebunden
Verlag
Erscheinungsjahr2021
Erscheinungsdatum09.05.2021
Auflage2. Auflage
Seiten544 Seiten
SpracheDeutsch
MasseBreite 175 mm, Höhe 226 mm, Dicke 37 mm
Gewicht1103 g
Artikel-Nr.49691709
Rubriken