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Essentials of Electronic Testing for Digital, Memory and Mixed-Signal VLSI Circuits

BuchKartoniert, Paperback
690 Seiten
Englisch
Springererschienen am07.04.20132002
The modern electronic testing has a forty year history. Other than the computer engineering curriculum being too crowded, the major reason cited for the absence of a course on electronic testing is the lack of a suitable textbook.mehr
Verfügbare Formate
BuchGebunden
EUR139,09
BuchKartoniert, Paperback
EUR139,09
E-BookPDF1 - PDF WatermarkE-Book
EUR128,39

Produkt

KlappentextThe modern electronic testing has a forty year history. Other than the computer engineering curriculum being too crowded, the major reason cited for the absence of a course on electronic testing is the lack of a suitable textbook.
Details
ISBN/GTIN978-1-4757-8142-7
ProduktartBuch
EinbandartKartoniert, Paperback
Verlag
Erscheinungsjahr2013
Erscheinungsdatum07.04.2013
Auflage2002
ReiheFrontiers in Electronic Testing
Seiten690 Seiten
SpracheEnglisch
Gewicht1326 g
IllustrationenXVIII, 690 p.
Artikel-Nr.30047664

Inhalt/Kritik

Inhaltsverzeichnis
to Testing.- VLSI Testing Process and Test Equipment.- Test Economics and Product Quality.- Fault Modeling.- Test Methods.- Logic and Fault Simulation.- Testability Measures.- Combinational Circuit Test Generation.- Sequential Circuit Test Generation.- Memory Test.- DSP-Based Analog and Mixed-Signal Test.- Model-Based Analog and Mixed-Signal Test.- Delay Test.- IDDQ Test.- Design for Testability.- Digital DFT and Scan Design.- Built-In Self-Test.- Boundary Scan Standard.- Analog Test Bus Standard.- System Test and Core-Based Design.- The Future of Testing.mehr