Hugendubel.info - Die B2B Online-Buchhandlung 

Merkliste
Die Merkliste ist leer.
Bitte warten - die Druckansicht der Seite wird vorbereitet.
Der Druckdialog öffnet sich, sobald die Seite vollständig geladen wurde.
Sollte die Druckvorschau unvollständig sein, bitte schliessen und "Erneut drucken" wählen.

Scanning Microscopy

Symposium Proceedings
BuchKartoniert, Paperback
207 Seiten
Englisch
Springererschienen am09.02.2012Softcover reprint of the original 1st ed. 1992
This third volume of the ESPRIT Basic Research Series provides a well structured overview of the state of the art of scanning microscopy and re­ cent advances including results of ESPRIT Basic Research Actions 3109 and 3314.mehr
Verfügbare Formate
BuchKartoniert, Paperback
EUR106,99
E-BookPDF1 - PDF WatermarkE-Book
EUR96,29

Produkt

KlappentextThis third volume of the ESPRIT Basic Research Series provides a well structured overview of the state of the art of scanning microscopy and re­ cent advances including results of ESPRIT Basic Research Actions 3109 and 3314.
Details
ISBN/GTIN978-3-642-84812-4
ProduktartBuch
EinbandartKartoniert, Paperback
Verlag
Erscheinungsjahr2012
Erscheinungsdatum09.02.2012
AuflageSoftcover reprint of the original 1st ed. 1992
Seiten207 Seiten
SpracheEnglisch
IllustrationenX, 207 p.
Artikel-Nr.18233900

Inhalt/Kritik

Inhaltsverzeichnis
Performance and Selection Criteria of Critical Components of STM and AFM.- Investigations on the SFM - Tip to Substrate Interaction.- New Scanning Microscopy Techniques: Scanning Noise Microscopy - Scanning Tunneling Microscopy Assisted by Surface Plasmons.- An STM Study of the Oxygenation of Silicon.- Scanning Near Field Optical Microscopy.- Study of Epitaxial Growth by Combination of STM and LEED.- STM Studies of Adsorbates in the Monolayer Range: Ag/Ni(100) and O/Ni(100).- Molecular Imaging with the Scanning Tunneling Microscope.- Imaging of Magnetic Domains in Ferromagnets and Superconductors by Force and Tunneling Microscopy.- Acoustic Microscopy: Pictures to Ponder.- Real-Time Confocal Scanning Microscope - An Optical Instrument with a Better Depth Resolution.- On the Search for Last Frontiers -Scanning Tunneling Microscopy and Related Techniques (Abstract).- STM and AFM Extensions (Abstract).mehr